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近年、電子デバイスの高機能化、高密度化、軽量・コンパクト化に伴い、接続端子もますます微細化し、より高度で精密な検査技術の確立が求められています。
NBCは、スクリーン印刷分野で培った回路印刷技術をメッシュテクノロジーに応用し、半導体などの電子デバイス検査用プローブ材を開発。従来の検査方法を一新し、検査コストの大幅な削減を実現しています。 |
異方性導電コネクター「Hyper-SMD」は、優れた周波数特性により、携帯電話に使用される高周波デバイスの検査で高い評価を得ています。また、メッシュ上に電気回路を形成したメッシュサーキットコネクター「MCC」は耐熱性に優れていることから、パソコンに使用されるロジックICなどの機能検査、有機EL、LCDなどの点灯検査に使用されています。
NBCでは、これからもフラットパネルディスプレイの進歩と飛躍を支えるため、電子デバイス検査技術開発と新しい用途開発を積極的に推進します。 |
NBCでは、お客様のニーズに応じて、MCC、SMD、FLCを用いた検査治具、プローブユニットの作成を各コンタクターの性能を十分に発揮できる機構を用いて、サポートしています。詳細はご相談ください。
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検査治具例 |
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